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        楊正紅總經理連任顆粒表征標準化技術分委會委員


        2023811日至13日,全國顆粒表征與分檢及篩網標委會顆粒分技術委員會(SAC/TC168/SC1)換屆大會暨年度工作會議在全國工業的一面旗幟——大慶油田有限責任公司勘探開發研究院舉行。



        在此次會議上,楊正紅總經理當選為第三屆顆粒分技術委員會(SAC/TC168/SC1)委員。

        在本次會議上,與會委員審查了國標《顆粒 粒度分析 彩色圖像法》英文版及《顆粒 質量一致性評價指南》等指導性技術文件。在國標新項目建議審查中,蔡小舒教授提出的《納米顆粒非球體度測量 偏振光散射法》引起了熱烈反響,大家一致認為這是納米及亞微米顆粒形狀測量的一個突破。





        會議期間,還舉行了ISO/TC24/SC4 (篩分法以外的粒度分析方法)202310月秋季年會的預備工作會議。楊正紅總經理作為ISO專家委員,將參加第一工作組(分析數據的表示,WG1)、第三工作組(孔徑分布和孔隙率,WG3)、第八工作組(圖像分析法,WG8)以及第十七工作組(zeta電位測定方法,WG17)的工作會議。

        大慶的秀麗風光給與會者留下了美好印象。





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